Mettler Toledo lanza nuevo sistema de inspección de rayos X especial para blísters y bolsas

Comunicado. Mettler-Toledo lanzó al mercado un nuevo sistema de inspección por rayos X, el X34C, que está diseñado específicamente para la detección de contaminantes en envases blíster y bolsas farmacéuticas a altas velocidades.

El sistema de inspección por rayos X X34C se basa en tres principios de diseño clave de compacidad, alta velocidad y precisión:

- Huella compacta: el sistema tiene una huella de sólo 700 mm de longitud, que incluye un rechazo integrado, lo que significa que el X34C se puede instalar en líneas de producción donde el espacio es escaso.

- Capacidades de alta velocidad: el X34C puede operar a 120 metros por minuto, lo que hace posible, por primera vez, mantener la inspección de productos alineada con muchas máquinas de envasado en flujo de alta velocidad y selladores de paquetes utilizados en el sector farmacéutico para empacar productos individuales. Esta combinación de velocidad y tamaño compacto es actualmente única en el mercado.

- Rendimiento preciso: la distancia focal optimizada del detector de diodo de 0,4 mm y el generador de potencia óptima de 100 W maximiza la probabilidad de detectar pequeños contaminantes y ayuda a reducir la tasa de rechazo falso. Debido a que los niveles de potencia y contraste de estos componentes se optimizan automáticamente para cada aplicación, el sistema no siempre necesita funcionar con su salida total de 100 W, lo que permite ahorrar energía.

Más información: https://www.mt.com/mx/es/home/products/Product-Inspection_1/safeline-x-ray-inspection/X34C.html?cmp=als_xray-x34c

 

 

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